化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
測(cè)量之后,任伺區(qū)域的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來。
TOF-SIMS 中,經(jīng)過反復(fù)測(cè)量和濺射,得到深層的結(jié)構(gòu)。
這段期間內(nèi),所有的質(zhì)譜都會(huì)被保存,完成測(cè)量后,任意深度的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來。
深度概況的數(shù)據(jù)源于在深度改變時(shí)樣品結(jié)構(gòu)的變化,在進(jìn)行完深度分析後不僅可以擁有內(nèi)部的信息,
三維構(gòu)筑的信息也可以得到。
提供了兩種類型的標(biāo)準(zhǔn)樣晶托,有直徑25mm ,樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ,
能放個(gè)樣品的樣品托,方便對(duì)準(zhǔn)樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶,可放置和樣晶托一般
用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺(tái),在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應(yīng)裝置,當(dāng)樣晶
在進(jìn)樣室開始,軟件即馬上顯示實(shí)時(shí)溫度回讀。另外也可以選配比較高可達(dá)600t只做加熱的樣晶托。
https://www.shuyunsh.com/product-item-112.html
https://www.shuyunsh.com/product-item-52.html