NS-3500 Solar 是一種可靠的半導體晶圓檢測系統(tǒng)，通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現(xiàn)實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結(jié)構(gòu)，可以為半導體晶片，F(xiàn)PD產(chǎn)品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等提供各種解決方案。

Features & Benefits（性能及優(yōu)勢）：高分辨無損傷光學3D測量                               自動傾斜補償實時共焦成像                                                 簡單的數(shù)據(jù)分析模式多種光學變焦                                                 雙Z掃描

大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測實時CCD明場和共聚焦成像                            無樣品準備自動聚焦 Application field（應用領域）：

NS-3500是測量低維材料的有前途的解決方案。

可測量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度，寬度，角度，面積和體積，例如

-半導體:IC圖形，凹凸高度，線圈高度，缺陷檢測，CMP工藝

- FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測，ITO圖案，LCD柱間距高度

- MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓，表面粗糙度，MEMS圖形

-玻璃表面:薄膜太陽能電池，太陽能電池紋理，激光圖案

-材料研究:模具表面檢測，粗糙度，裂紋分析

https://www.chem17.com/st476532/erlist_2243785.html

http://www.nanoscopesystem.com/Products-35858214.html